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电学测试研究仪器

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EL MI-2非晶材料磁阻抗特性测量仪

一、仪器简介及原理   
    本仪器专门为材料电阻特性变温测试而设计的,采用专用高精度电阻和温度测量仪材料电阻R随温度T的变化,采用四端测量法减小接触电阻对测量的影响提高测量精度。样品采用氮气保护,可连续测量-100℃~800 ℃样品电阻随温度的变化。采用流行的USB 2.0接口与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,极大地方便了用户的使用。
二、仪器功能和用途
    通过本仪器能够实现固定频率下的变磁场测量和定磁场下的扫频测量。测量参数可以选择阻抗/位相(Z/Ф)模式或实部/虚部(R/X)模式,通过USB接口连接计算机自动采集和显示数据。
该仪器实验原理清晰直观、性能稳定、连线简单直观、操作简便,适合于高校本科生、研究生开设专业实验中使用也可在科研测试工作中使用。
三、仪器配置与构成  

BKT-4A非晶材料磁阻抗特性测量仪配置构成表
序号 分项名称 型号规格 产地/制造商 数量
1 亥姆霍兹线圈 BKT-1H,
Φ260,160 0e
国产 1
2 线圈电源 BKT-05A,5A 国产 1
3 信号发生器 F320 台湾 1
4 系统主机 BKT-4A,30mA 国产 1
5 探头组件 MI-10 国产 1
6 计算机 笔记本 同方 1
7 数据采集软件 Win 7 自编 2
 
 
四、技术指标
    1、系统控制主机:内含可1路可调恒流源(0.3mA~50mA)、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡;功耗:<50W。
    2、自动扫描电源:0~±5A,扫描周期8~80秒。
    3、亥姆霍兹线圈:0~±160Gs。
    4、 测量专用检波与放大电路技术参数:
    输入信号动态范围:±30 dB;
    输出电平灵敏度:30mV / dB;
    输出电流:8mA;,转换速率:25 V /μs;
    相位测量范围:0~180°;
    相位输出时转换速率:30MHz;
    响应时间:40 ns~500 ns;
    测量夹头间隔10mm。



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