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仪器开发

电学测试研究仪器

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EL MR系列磁电阻特性测试仪

一、仪器简介及原理
    用巨磁电阻和各向异性磁电阻磁性薄膜材料制作计算机硬盘读出磁头和各种弱磁传感器,已经广泛应用于信息技术、工业控制、航海航天导航等高新技术领域。该仪器选用高精度电阻测量专用仪表和数控扫描电源,外部连线简单直观,可连接计算机自动采集和显示数据,具有牢固可靠、操作简便等优点,非常适合于大专院校实验教学和科研使用。
二、仪器用途
    通过该仪器可以完成以下测试工作:
    (1)金属、半导体、导电高分子薄膜(或块体)电阻率的测量
    (2)金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(最大厚度3毫米)
    (3)磁性合金薄膜的磁电阻测量
    (4)铁磁/非磁性/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量
    (5)自旋阀型巨磁电阻薄膜、隧道结型巨磁电阻薄膜的磁电阻测量
    BKT-3型磁电阻特性测试仪采用手动调节磁场和人工读数,适合与大中专院校本科生研究生的专业实验中使用。
三、技术指标
    1、四探针组件由具有引线的四根探针组成
    2、数字恒流源在0-50mA范围内可调
    3、直流数字电压表具有6位半字长,精度高
    4、自编的数据采集软件,操作界面友好
MG VSM产品系列

仪器型号 仪器配置 磁场产生方式 适用场合
EL MR-1 最大磁场强度100Oe 亥姆霍兹线圈 教学
EL MR-2 最大磁场强度200Oe 亥姆霍兹线圈 教学与科研兼容
EL MR-4 最大磁场强度400Oe 亥姆霍兹线圈 科研
EL MR-100 最大磁场强度1.0T 电磁铁 科研
EL MR-150 最大磁场强度1.5T 电磁铁 科研
EL MR-200 最大磁场强度2.0T 电磁铁 科研 



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