TTRⅢ多功能X射线衍射仪是日本理学公司最新推出的一款集粉末衍射、应力和极图分析、小角散射、薄膜分析等为一体的旗舰级X射线分析设备，可以进行材料的物相鉴定及定量分析；原子排列与占位分析；纳米材料的晶粒度和颗粒度测定；应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等。
仪器设备性能参数：
1.X射线发生器
最大额定输出功率: 18KW      管电压: 20-60kV(稳定度<+0.01%) 
管电流: 10-300mA   靶材: Cu  焦点尺寸: 0.5mm x 10mm
2.测角仪
垂直式&theta;/&theta;测角仪，样品水平放置不动   控制方式: &theta;s/&theta;d连动和&theta;s/&theta;d单动
测角仪半径: 285mm   测量范围（2&theta;）：-10～154&deg;
最小步长和重复性： 1&deg;/10000    扫描速度（2&theta;）： 0.0002～100&deg;/分 
扫描方式：连续扫描/步进扫描 单色器：石墨晶体
3.计数器   
闪烁计数器S.C.  线性计数：70万cps    最大计数：100万cps
4.多层膜反射镜
使用波长：CuK&alpha;      出射角度：&le;0.06&deg;(普通5&deg;) 
K&alpha;:K&beta;：&ge;99.5%     聚焦光路和平行光路自动切换
仪器设备功能用途：
1.室温X射线衍射
扫描角度（2&theta;）：10～150&deg;      扫描速度：10～15&deg;/min
粉末样品要求：粒度200～300目, 质量1-2g。
片状样品面积要求：表面平整，无残余应力；样品表面最大尺寸为20mm&times;20mm。随面积减小，样品衍射强度降低（建议样品尺寸不小于15mm&times;5mm）。样品厚度一般需大于0.05mm
2.高温原位X射线衍射
升温范围: R.T.～1200℃   升温速率：10℃/min      扫描速率：10～15&deg;/min
粉末样品尺寸：粒度200～300目，且不能与金属Pt反应
金属片状样品：最大尺寸22mm&times;11mm&times;0.5mm。随面积减小，样品衍射强度降低。
3.小角散射 ： 测量角度: 0.5～5&deg; 角度分辨率: 0.1&deg;(2&theta;)  样品尺寸: 4mm&times;32mm&times;2mm