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XPS定性分析

检 测 项 目 介 绍 表

检测项目

材料XPS检测

01-电镜类设备 XPS.jpg

常规仪器

X射线光电子能谱分析XPS

联系电话

010-62333720

E-Mail

test@ustbtc.com

检测周期

5-10个工作日

检测参数介绍:

XPS可对固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析及深度剖析。可进行金属、合金中夹杂物成分分析,炉渣、矿相、材料中元素及其在体相中的深度分布分析等,能给出逐层元素变化的具体信息(包括价态、含量、分布及元素的图像)。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体,粉末、薄膜等。

检测项目:固体表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析等

测试要求:

1、测试深度在3-5nm,分析区域<1mm2,常温测试;测试除H、He以外的元素种类、价态及含量。

2、测试样品为粉末,小于5*5*2mm,厚度一定要低于2mm,尽可能薄;长和宽在2mm5mm之间。




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