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MG MS-150薄膜磁致伸缩特性测量系统

一、仪器简介及原理

磁致伸缩薄膜材料在微机电系统(MEMS)、水下声纳等领域有着广泛的应用，由于磁致伸缩薄膜的磁致伸缩系数λ的绝对值很小，因此对薄膜材料的磁致伸缩系数λ进行直接测量十分困难。本仪器采用激光光杠杆放大的方法测量磁致伸缩薄膜悬臂梁的微挠度，从而实现磁致伸缩系数λ的测试。

二、仪器用途
测量块体或薄膜材料的磁致伸缩系数λ和磁致伸缩系数曲线等。可用于高等学校、科研院所以及相关企业的科研教学和生产测试中。
三、仪器配置构成

薄膜磁致伸缩特性测量系统配置构成表

序号	分项名称	型号规格	数量
1	电磁铁	BKD-130 1.2T，磁极直径100mm，0～50mm可调	1
2	扫描电源	BKLD-3，30A，RS232，3KW	2
3	光学平台	1.2x0.6x80	3
4	PSD传感器套件	PSD 21x21mm，位置分辨率6nm，380～1100nm	4
5	激光器+光路调节配件	半导体激光器1个，磁性底座4个，反射镜3个，调节架4个，样品固定架1套	5
6	数据采控主机	BKU-24 3通道数据采集器，USB接口，24bit	6
7	数据采控软件	计算机控制软件	7

四、技术指标

1.主机可调恒流源：0.3 mA ~15mA
2.主机功耗：<50W
3.扫描电源: 0~30mA
4.扫描周期: 8s~80s
5.磁场变化范围: 0~1.0T
6.PSD激光位移传感器：有效检测面积21x21mm，精度6μm