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透射电子显微分析TEM

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高分辨电子显微观察


高分辨电子显微观察  利用透射电子显微镜将固体物质中原子排列投影成像的理论和技术。其分辨能力接近或达到原子尺度(约0.1nm)。对显示材料结构纳米尺度的变异及缺陷有独到的优点。



样品要求


   
            日本电子 高分辨透射电子显微镜                                            FEI   场发射枪透射电子显微镜

仪器设备对外服务项目:
1、明暗场像;
2、选区电子衍射SAED;
3、高分辨成像HRTEM;
4、能谱分析EDS。

地址:北京市海淀区学院路30号北京科技大学材料测试楼4层 邮编:100083

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