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X射线光电子能谱分析XPS

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固体表面分析


包括表面的化学组成或元素组成,原子价态,表面能态分布,测定表面电子的电子云分布和能级结构等。
XPS主要用于固体样品表面的组成、化学状态分析。能进行定性、半定量及价态分析。广泛应用于聚合物、无机化合物、有机化合物、催化剂、涂层材料、纳米材料、矿石等各种材料的研究。
对于块状和薄膜试样直径不要超过8mm,厚度不要超过3mm;对于粉末试样,应在烘烤箱内烘烤后才能测试。

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