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X射线衍射分析XRD

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应力测定


X射线测定应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。具有非破坏性,可测小范围局部应力,可测表层应力,可区别应力类型、测量时无需使材料处于无应力状态等优点,但其测量精确度受组织结构的影响较大,X射线也难以测定动态瞬时应力。

宏观应力的测定 宏观残留应力的方向和大小,直接影响机器零件的使用寿命。利用测量点阵平面在不同方向上的间距的变化,可计算出残留应力的大小和方向。
微观应力的测定 由衍射花样的形状和强度可计算晶粒和微应力的大小。

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